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激光橢偏儀Laser Ellipsometer
采用10.6um或355nm激光光源或其他光源,對被測鏡片進行膜層或表面位相延遲的檢測,通過物理建模軟件,可以進行定量分析,是光學薄膜、激光偏振檢測、偏振和位相研究的重要工具。
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長春德雙進出口貿易公司 

吉公網安備 22010602000321號

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